वेल्डिंग शक्ति पहचान विधियों का परिचय

1. खुला तन्य विधि

ओपन टेन्साइल विधि वेल्डिंग की ताकत का पता लगाने के लिए आमतौर पर इस्तेमाल की जाने वाली विधियों में से एक है। इसका सिद्धांत वेल्ड पर एक छेद खोलना और परीक्षण मशीन के तन्य परीक्षण के तहत वेल्ड के फ्रैक्चर लोड को मापना है। इस विधि का उपयोग वेल्ड की तन्य शक्ति और कतरनी शक्ति का पता लगाने के लिए किया जा सकता है। इसका उपयोग वेल्ड की ताकत पर वेल्ड साइड निचोड़ और गड़गड़ाहट जैसी सतह की गुणवत्ता के प्रभाव का पता लगाने के लिए भी किया जा सकता है।

2. क्लैंप कतरनी विधि

क्लैंप शियर विधि वेल्ड की कतरनी शक्ति को मापने की एक विधि है। इसका सिद्धांत प्लायर्स के साथ वेल्ड को क्लैंप करना और परीक्षण मशीन की कतरनी क्रिया के तहत इसका परीक्षण करना है। इस विधि से वेल्ड में कतरनी भार का अच्छी तरह से पता लगाया जा सकता है।

3. कठोरता परीक्षण विधि

कठोरता परीक्षण विधि वेल्ड की आंतरिक शक्ति का पता लगाने के लिए एक परीक्षण विधि है। इसका सिद्धांत वेल्ड क्षेत्र की कठोरता का पता लगाकर वेल्ड की ताकत का न्याय करना है। परीक्षण विधियों में विकर्स कठोरता परीक्षक, रॉकवेल कठोरता परीक्षक आदि शामिल हैं, और इसके परीक्षण के परिणाम वेल्ड की ताकत और कठोरता को दर्शा सकते हैं।

4. अल्ट्रासोनिक पता लगाने की विधि

अल्ट्रासोनिक डिटेक्शन विधि वेल्ड का पता लगाने के लिए एक गैर-विनाशकारी पहचान विधि है। इसका सिद्धांत वेल्ड के अंदर प्रसारित होने वाली अल्ट्रासोनिक तरंगों के प्रतिबिंब और प्रसार की गति का पता लगाकर वेल्ड की गुणवत्ता को मापना है। यह विधि वेल्ड के अंदर दोषों का पता लगा सकती है, जिसमें छिद्र, समावेशन आदि शामिल हैं।

5. एक्स-रे पहचान विधि

एक्स-रे डिटेक्शन विधि वेल्ड का पता लगाने के लिए एक और गैर-विनाशकारी पहचान विधि है। इसका सिद्धांत वेल्ड में प्रवेश करने के लिए एक्स-रे का उपयोग करना और वेल्ड की गुणवत्ता का न्याय करने के लिए विभिन्न सामग्रियों में एक्स-रे के प्रतिबिंब की डिग्री को मापना है। यह विधि वेल्ड में दोषों और गुणवत्ता की समस्याओं का पता लगाने के लिए उपयुक्त है।

6. चुंबकीय कण पता लगाने की विधि

चुंबकीय कण पहचान विधि वेल्ड सतह का पता लगाने की एक विधि है। इसका सिद्धांत वेल्ड सतह पर चुंबकीय पदार्थ लगाना और चुंबकीय क्षेत्र में इसके सोखने के प्रभाव का उपयोग करके वेल्ड की सतह के दोषों का पता लगाना है। यह विधि सतह की दरारें, समावेशन और अन्य समस्याओं का पता लगाने के लिए उपयुक्त है।